Modern Developments in Electron Microscopy.

Langue : anglais

Edité par New York u. London: Academic Press, 1964

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Détails bibliographiques

Titre
Modern Developments in Electron Microscopy.
Auteur
Siegel, Benjamin M.:
Éditeur
New York u. London: Academic Press
Année de publication
1964
État de l'article
Gut
Reliure
8° , Leinen
Langue
anglais
Poids de l'article
1 100 grammes
Catalogues du vendeur
Naturwissenschaften

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