Multi-Label Dimensionality Reduction

Livre 12 sur 15: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition

Sun, Liang; Ji, Shuiwang; Ye, Jieping

ISBN 10: 1439806152 ISBN 13: 9781439806159
Edité par Chapman and Hall/CRC, 2013
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

Vendu par Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis

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