New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices

Livre 55 sur 393: Micro and Nano Technologies

Zeev Zalevsky

ISBN 10: 0323241433 ISBN 13: 9780323241434
Edité par William Andrew Publishing, 2013
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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