New Horizon Testing: Latent Trait Test Theory and Computerized Adaptive Testing

Weiss, D. L.

ISBN 10: 0127427805 ISBN 13: 9780127427805
Edité par Academic Press, 1984
Langue: anglais
Etat : Occasion - Satisfaisant Couverture rigide

Vendu par Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni

Honoris Librarius
Vendeur AbeBooks depuis 22 décembre 1999

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Ancien(s) ou d'occasion - Couverture rigide

Etat : Occasion - Satisfaisant

Prix:
EUR 40,52
Expédition à EUR 15,32
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier