A Novel approach for Fault Tolerant Nano Memory Applications

Langue : anglais

Edité par LAP LAMBERT Academic Publishing Mai 2016, 2016

3659894419 / 9783659894411

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -NANOTECHNOLOGY provides smaller, faster, and lower energy devices which allow more powerful and compact circuitry; However, these benefits come with a cost-the nanoscale devices may be less reliable. Thermal- and shot-noise estimations alone suggest that the transient fault rate of an individual nanoscale device (e.g., transistor or nanowire) may be orders of magnitude higher than today's devices. A failure is said to have occurred in a circuit or system if it deviates from its specified behavior. A fault on the other hand is physical defect which may or may not cause a failure. The failure rate, also known as the hazard rate and defined as number of failures per unit time compared with the number of surviving components. A fault is characterized by its nature, value, extent & duration. 68 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9783659894411

Titre
A Novel approach for Fault Tolerant Nano Memory Applications
Auteur
Chinnala Pavan Kumar
Éditeur
LAP LAMBERT Academic Publishing Mai 2016
Année de publication
2016
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3659894419
ISBN à 13 chiffres
9783659894411
Poids de l'article
119 grammes
Dimensions
220x150x5 mm

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