On-Line Testing for VLSI

Langue : anglais

Edité par Springer US Apr 1998, 1998

0792381327 / 9780792381327

Série : Livre 33 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers. 168 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9780792381327

Titre
On-Line Testing for VLSI
Auteur
Michael Nicolaidis
Éditeur
Springer US Apr 1998
Année de publication
1998
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0792381327
ISBN à 13 chiffres
9780792381327
Poids de l'article
525 grammes
Dimensions
260x183x14 mm
Série
Livre 33 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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