Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers

Langue : anglais

Edité par Springer, Springer Dez 2011, 2011

364279680X / 9783642796807

Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 23 janvier 2017

Livre broché

Etat: Neuf

EUR 53,49

EUR 60,00 expédition 
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible

Ajouter au panier
Retours gratuits sous 30 jours

A propos de cet article

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The characterization of epitaxial layers and their surfaces has benefitted a lot from the enormous progress of optical analysis techniques during the last decade. In particular, the dramatic improvement of the structural quality of semiconductor epilayers and heterostructures results to a great deal from the level of sophistication achieved with such analysis techniques. First of all, optical techniques are nondestructive and their sensitivity has been improved to such an extent that nowadays the epilayer analysis can be performed on layers with thicknesses on the atomic scale. Furthermore, the spatial and temporal resolution have been pushed to such limits that real time observation of surface processes during epitaxial growth is possible with techniques like reflectance difference spectroscopy. Of course, optical spectroscopies complement techniques based on the inter action of electrons with matter, but whereas the latter usually require high or ultrahigh vacuum conditions, the former ones can be applied in different environments as well. This advantage could turn out extremely important for a rather technological point of view, i.e. for the surveillance of modern semiconductor processes. Despite the large potential of techniques based on the interaction of electromagnetic waves with surfaces and epilayers, optical techniques are apparently moving only slowly into this area of technology. One reason for this might be that some prejudices still exist regarding their sensitivity.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 452 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9783642796807

Titre
Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers
Auteur
Günther Bauer
Éditeur
Springer, Springer Dez 2011
Année de publication
2011
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
364279680X
ISBN à 13 chiffres
9783642796807
Poids de l'article
680 grammes
Dimensions
235x155x25 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Allemagne

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 23 janvier 2017

Frais d'expédition de Allemagne vers Etats-Unis

Article60 à 60 jours ouvrés60 à 60 jours ouvrés
Premier articleEUR 60,00EUR 75,00
Les délais de livraison sont fixés par les vendeurs et varient en fonction du transporteur et du lieu. Les commandes transitant par les douanes peuvent être retardées et les acheteurs sont responsables de tous les droits ou frais associés. Les vendeurs peuvent vous contacter au sujet de frais supplémentaires afin de couvrir toute augmentation des coûts d'expédition de vos articles.

Modes de paiement

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Chèque
  • Paypal

Description de la boutique

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Spécialité

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Profil professionnel du vendeur

buchversandmimpf2000

Allemagne