Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability (Selected Topics in Electronics and Systems)

Dumin, David J (Editor)

ISBN 10: 9810248423 ISBN 13: 9789810248420
Edité par World Scientific Publishing Company, 2002
Langue: anglais
Etat : Occasion - Très bon Couverture rigide

Vendu par BookScene, Hull, MA, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 27 avril 2001

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Ancien(s) ou d'occasion - Couverture rigide

Etat : Occasion - Très bon

Prix:
EUR 133,48
Expédition à EUR 4,74
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier