Passive and Active Measurement: 20th International Conference, Pam 2019, Puerto Varas, Chile, March 27-29, 2019, Proceedings

Langue : anglais

Edité par Springer-Verlag New York Inc, 2019

303015985X / 9783030159856

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Titre
Passive and Active Measurement: 20th International Conference, Pam 2019, Puerto Varas, Chile, March 27-29, 2019, Proceedings
Auteur
Choffnes, David (Editor)/ Barcellos, Marinho (Editor)
Éditeur
Springer-Verlag New York Inc
Année de publication
2019
État de l'article
Brand New
Reliure
Paperback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
303015985X
ISBN à 13 chiffres
9783030159856
Poids de l'article
0,47 kilogramme

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