Positron Profilometry

Langue : anglais

Edité par Springer Nature Switzerland, Springer Nature Switzerland Sep 2023, 2023

3031410920 / 9783031410925

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides a comprehensive overview of positron profilometry, specifically focusing on the analysis of defect depth distribution in materials. Positron profilometry plays a crucial role in understanding and characterizing defects in a wide range of materials, including metals, semiconductors, polymers, and ceramics. By analyzing the depth distribution of defects, researchers can gain insights into various material properties, such as crystal structure, defect density, and diffusion behavior. The author's extensive research spanning a period of two decades has primarily centered on subsurface zones. These regions, located beneath the surface and subjected to various surface processes, play a crucial role in generating defect distributions. Three experimental techniques and their data analysis are described in detail: a variable-energy positron beam (VEP) called sometimes a slow positron beam, a technique called implantation profile depth scanning (DSIP), and a sequential etching(SET) technique. The usability of these techniques is illustrated by many examples of measurements by the author and others. 152 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9783031410925

Titre
Positron Profilometry
Auteur
Jerzy Dryzek
Éditeur
Springer Nature Switzerland, Springer Nature Switzerland Sep 2023
Année de publication
2023
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3031410920
ISBN à 13 chiffres
9783031410925
Poids de l'article
270 grammes
Dimensions
235x155x9 mm

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