Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)

Livre 11 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Nicolici, Nicola; Al-Hashimi, Bashir M.

ISBN 10: 1441953159 ISBN 13: 9781441953155
Edité par Springer, 2010
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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