The Practice of TOF-SIMS

Langue : anglais

Edité par Momentum Press, US, 2016

1606507737 / 9781606507735

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Time of flight secondary ion mass spectrometry, TOF-SIMS, is a highly surface sensitive analytical technique that provides information about composition with submicron lateral resolution. For select materials, TOF-SIMS provides unparalleled sensitivity along with excellent reproducibility, and as a mass spectrometric technique, it also provides excellent specificity. Of the analytical methods available, it is among the most surface sensitive, but the physical principles that underlie it are also the least understood. This volume describes the instrumentation, the physical principles behind the technique to the extent they are understood, and provides a practical approach for the interpretation of TOF-SIMS data. The use of advanced data processing methods such as multivariate statistics are described in a readily approachable manner. Given a basic background in undergraduate chemistry and physics, the book will be of use to any student with an interest in the technique.

N° de réf. du vendeur LU-9781606507735

Titre
The Practice of TOF-SIMS
Auteur
Alan M. Spool
Éditeur
Momentum Press, US
Année de publication
2016
État de l'article
New
Reliure
Paperback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1606507737
ISBN à 13 chiffres
9781606507735

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