Quantitative X-Ray Diffractometry

Langue : anglais

Edité par Springer New York Dez 2011, 2011

1461395372 / 9781461395379

Série : Livre 1 sur 55 - Contributions to Political Science

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers. 396 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9781461395379

Titre
Quantitative X-Ray Diffractometry
Auteur
Lev S. Zevin
Éditeur
Springer New York Dez 2011
Année de publication
2011
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1461395372
ISBN à 13 chiffres
9781461395379
Poids de l'article
681 grammes
Dimensions
244x170x22 mm
Série
Livre 1 sur 55: Contributions to Political Science

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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