Reliability Modeling With Applications : Essays in Honor of Professor Toshio Nakagawa on His 70th Birthday

Nakamura, Syouji (EDT); Qian, Cun Hua (EDT); Chen, Mingchih (EDT)

ISBN 10: 9814571938 ISBN 13: 9789814571937
Edité par World Scientific Publishing Company, 2013
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

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