Reliability Prediction for Microelectronics (Hardcover)

Langue : anglais

Edité par John Wiley & Sons Inc, New York, 2024

1394210930 / 9781394210930

Vendeur : CitiRetail, Stevenage, Royaume-UniCitiRetail

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 29 juin 2022

Livre relié

Etat: Neuf

EUR 134,71

EUR 44,40 expédition 
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible

Ajouter au panier
Retours gratuits sous 30 jours

A propos de cet article

Hardcover. RELIABILITY PREDICTION FOR MICROELECTRONICS Wiley Series in Quality & Reliability Engineering REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over the lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability. Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the physics of failure, combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing. Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find: Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditionsDetailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and moreNew multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.…

N° de réf. du vendeur 9781394210930

Titre
Reliability Prediction for Microelectronics (Hardcover)
Auteur
Joseph B. Bernstein
Éditeur
John Wiley & Sons Inc, New York
Année de publication
2024
État de l'article
new
Reliure
Hardcover
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1394210930
ISBN à 13 chiffres
9781394210930

CitiRetail

Stevenage, Royaume-Uni

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 29 juin 2022

Frais d'expédition de Royaume-Uni vers Etats-Unis

Article7 à 14 jours ouvrés7 à 60 jours ouvrés
Premier articleEUR 44,40EUR 44,40
Les délais de livraison sont fixés par les vendeurs et varient en fonction du transporteur et du lieu. Les commandes transitant par les douanes peuvent être retardées et les acheteurs sont responsables de tous les droits ou frais associés. Les vendeurs peuvent vous contacter au sujet de frais supplémentaires afin de couvrir toute augmentation des coûts d'expédition de vos articles.

Modes de paiement

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Description de la boutique

Online business

Profil professionnel du vendeur

ABC BOOKS LIMITED

10 John Street
London, Royaume-Uni WC1N 2EB