Satistical and Machine learning approaches: 707 (Wiley Series in Computational Statistics)

Langue : anglais

Edité par John Wiley & Sons, 2012

0470195150 / 9780470195154

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pp. 344 Index Illustrated edition , 1865, 32nd Cross, BSK 2nd Stage, Bangalore560070.

N° de réf. du vendeur 264660303

Titre
Satistical and Machine learning approaches: 707 (Wiley Series in Computational Statistics)
Auteur
Matthias Dehmer Subhash C. Basak
Éditeur
John Wiley & Sons
Année de publication
2012
État de l'article
New
Reliure
Couverture rigide
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0470195150
ISBN à 13 chiffres
9780470195154

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