Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.

ISBN 10: 1493982699 ISBN 13: 9781493982691
Edité par Springer, 2018
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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