Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Goldstein, Joseph I., Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W.M., Scott, John Henry J., Joy, David C.

Edité par Springer

A propos de cet article

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Détails bibliographiques

Titre : Scanning Electron Microscopy and X-Ray ...

Éditeur : Springer

Reliure : hardcover

Etat : LikeNew