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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Goldstein, Joseph I., Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W.M., Scott, John Henry J., Joy, David C.

Edité par Springer
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Détails bibliographiques

Titre : Scanning Electron Microscopy and X-Ray ...
Éditeur : Springer
Reliure : hardcover
Etat : VeryGood

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Goldstein, Joseph I.,Newbury, Dale E.,Michael, Joseph R.,Ritchie, Nicholas W.M.,Scott, John Henry J.,Joy, David C.
Edité par Springer, 2017
ISBN 10 : 149396674X ISBN 13 : 9781493966745
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Edité par Springer, 2017
ISBN 10 : 149396674X ISBN 13 : 9781493966745
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ISBN 10 : 1493982699 ISBN 13 : 9781493982691
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Joseph I. Goldstein|Dale E. Newbury|Joseph R. Michael|Nicholas W.M. Ritchie|John Henry J. Scott|David C. Joy
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ISBN 10 : 1493982699 ISBN 13 : 9781493982691
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