Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph I. Goldstein|Dale E. Newbury|Joseph R. Michael|Nicholas W.M. Ritchie|John Henry J. Scott|David C. Joy

ISBN 10: 149396674X ISBN 13: 9781493966745
Edité par Springer New York, 2017
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

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