Scanning Probe Lithography

Langue : anglais

Edité par Springer US, Springer US Jun 2001, 2001

0792373618 / 9780792373612

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Probe Lithography (SPL) describes recent advances in the field of scanning probe lithography, a high resolution patterning technique that uses a sharp tip in close proximity to a sample to pattern nanometer-scale features on the sample. SPL is capable of patterning sub-30nm features with nanometer-scale alignment registration. It is a relatively simple, inexpensive, reliable method for patterning nanometer-scale features on various substrates. It has potential applications for nanometer-scale research, for maskless semiconductor lithography, and for photomask patterning. The authors of this book have been key players in this exciting new field. Calvin Quate has been involved since the beginning in the early 1980s and leads the research time that is regarded as the foremost group in this field. Hyongsok Tom Soh and Kathryn Wilder Guarini have been the members of this group who, in the last few years, have brought about remarkable series of advances in SPM lithography. Some of these advances have been in the control of the tip which has allowed the scanning speed to be increased from mum/second to mm/second. Both non-contact and in-contact writing have been demonstrated as has controlled writing of sub-100 nm lines over large steps on the substrate surface. The engineering of a custom-designed MOSFET built into each microcantilever for individual current control is another notable achievement. Micromachined arrays of probes each with individual control have been demonstrated. One of the most intriguing new aspects is the use of directly-grown carbon nanotubes as robust, high-resolution emitters. In this book the authors concisely and authoritatively describe the historical context, the relevant inventions, and the prospects for eventual manufacturing use of this exciting new technology. 228 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9780792373612

Titre
Scanning Probe Lithography
Auteur
Hyongsok T. Soh
Éditeur
Springer US, Springer US Jun 2001
Année de publication
2001
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0792373618
ISBN à 13 chiffres
9780792373612
Poids de l'article
512 grammes
Dimensions
241x160x17 mm

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