Semiconductor Measurement Technology : Microelectronic Test Pattern NBS-4.

Thurber, W. Robert and Martin G. Buehler.

Edité par NBS Special Publication 400-32, 1978, 85 PP., 1977
Etat : Occasion - Assez bon Couverture souple

Vendu par Eryops Books, Stephenville, TX, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 11 juillet 2003

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Ancien(s) ou d'occasion - Couverture souple

Etat : Occasion - Assez bon

Prix:
EUR 7,03
Expédition à EUR 5,15
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier