In Situ Real Time Characterization of Thin Films: Edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss Auciello, Orlando and Krauss, Alan Robert

Auciello, Orlando [Editor]; Krauss, Alan R. [Editor];

ISBN 10: 0471241415 ISBN 13: 9780471241416
Edité par Wiley-Interscience, 2000
Langue: anglais
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