Soft Error Reliability of VLSI Circuits

Langue : anglais

Edité par Springer International Publishing Okt 2020, 2020

3030516091 / 9783030516093

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today's reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques. 128 pp. Englisch. …

N° de réf. du vendeur 9783030516093

Titre
Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Auteur
Mohsen Raji
Éditeur
Springer International Publishing Okt 2020
Année de publication
2020
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3030516091
ISBN à 13 chiffres
9783030516093
Poids de l'article
366 grammes
Dimensions
241x160x13 mm

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