Software Defect and Operational Profile Modeling

Langue : anglais

Edité par Springer US, 2012

1461375592 / 9781461375593

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also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1 Preface. 1. Introduction. 2. Empirical Regression Methods. 3. Dynamic Methods. 4. Capture-Recapture Methods. 5. Decomposition Me.

N° de réf. du vendeur 4195688

Titre
Software Defect and Operational Profile Modeling
Auteur
Kai-Yuan Cai
Éditeur
Springer US
Année de publication
2012
État de l'article
New
Reliure
Kartoniert / Broschiert
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1461375592
ISBN à 13 chiffres
9781461375593

moluna

Greven, Allemagne

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