The Spectroscopy of Semiconductors, Vol. 36

ISBN 10: 0127521364 ISBN 13: 9780127521367
Edité par Elsevier, 1992
Neuf(s) Couverture rigide

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Description :

pp. 435. N° de réf. du vendeur 7422028

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Synopsis :

Spectroscopic techniques are among the most powerful characterization methods used to study semiconductors. This volume presents reviews of a number of major spectroscopic techniques used to investigate bulk and artificially structured semiconductors including: photoluminescence, photo-reflectance, inelastic light scattering, magneto-optics, ultrafast work, piezo-spectroscopy methods, and spectroscopy at extremely low temperatures and high magnetic fields. Emphasis is given to major semiconductor systems, and artificially structured materials such as GaAs, InSb, Hg1-xCdxTe and MBE grown structures based upon GaAs/AlGaAs materials. Both the spectroscopic novice and the expert will benefit from the descriptions and discussions of the methods, principles, and applications relevant to today's semiconductor structures.

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Détails bibliographiques

Titre : The Spectroscopy of Semiconductors, Vol. 36
Éditeur : Elsevier
Date d'édition : 1992
Reliure : Couverture rigide
Etat : New

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