Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010, Proceedings

Langue : anglais

Edité par Springer-Verlag New York Inc, 2010

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Titre
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010, Proceedings
Auteur
Hancock, Edwin R. (Editor)
Éditeur
Springer-Verlag New York Inc
Année de publication
2010
État de l'article
Brand New
Reliure
Paperback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3642149790
ISBN à 13 chiffres
9783642149795
Poids de l'article
1,09 kilogramme

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