Surface and Thin Film Analysis

Langue : anglais

Edité par Wiley-VCH Verlag GmbH, DE, 2011

3527320474 / 9783527320479

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Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts - electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry. From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett) ". a useful resource." (Journal of the American Chemical Society) 2nd, Completely Revised and Enlarged Edition.

N° de réf. du vendeur LU-9783527320479

Titre
Surface and Thin Film Analysis
Auteur
Gernot Friedbacher
Éditeur
Wiley-VCH Verlag GmbH, DE
Année de publication
2011
État de l'article
New
Reliure
Hardback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3527320474
ISBN à 13 chiffres
9783527320479
Édition
2ème Édition
Poids de l'article
1 212 grammes

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