Techniques for Power and Reliability Optimization of CMOS Logic

Langue : anglais

Edité par LAP LAMBERT Academic Publishing Feb 2012, 2012

3848409623 / 9783848409624

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -As the transistors became smaller in size and the systems became faster, issues like power consumption, signal integrity, soft error tolerance, and testing became serious challenges. There is an increasing demand to put CAD tools in the design flow to address these issues at every step of the design process. First part of this research investigates circuit level techniques to reduce power consumption in digital systems. In second part, improving soft error tolerance of digital systems is considered as a trade off problem between power and reliability and a power aware dynamic soft error tolerance control strategy is developed. The objective of this research is to provide CAD tools and circuit design techniques to optimize power consumption and to increase soft error tolerance of digital circuits. Multiple supply and threshold voltages are used to reduce power consumption. Variable supply and threshold voltages are used together with variable capacitances to develop a dynamic soft error tolerance control scheme. 108 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9783848409624

Titre
Techniques for Power and Reliability Optimization of CMOS Logic
Auteur
Abdulkadir Utku Diril
Éditeur
LAP LAMBERT Academic Publishing Feb 2012
Année de publication
2012
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3848409623
ISBN à 13 chiffres
9783848409624
Poids de l'article
179 grammes
Dimensions
220x150x7 mm

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