Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices.

Nakamura, Takashi/Ibe, Eishi/Baba, Mamoru/Yahagi, Yasuo/Kameyama, Hideaki

ISBN 10: 9812778810 ISBN 13: 9789812778819
Edité par World Scientific Publishing Company., 2008
Langue: anglais
Etat : Occasion Couverture rigide

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