Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems

Langue : anglais

Edité par John Wiley and Sons Inc, US, 2015

1118479297 / 9781118479292

Vendeur : Rarewaves USA United, HEBRON, KY, Etats-UnisRarewaves USA United

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 20 juin 2025

Livre relié

Etat: Neuf

EUR 182,55

EUR 44,53 expédition 
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier
Retours gratuits sous 30 jours

A propos de cet article

This book provides the reader with knowledge on a wide variety of radiation fields and their effects on the electronic devices and systems. The author covers faults and failures in ULSI devices induced by a wide variety of radiation fields, including electrons, alpha-rays, muons, gamma rays, neutrons and heavy ions. Readers will learn how to make numerical models from physical insights, to determine the kind of mathematical approaches that should be implemented to analyze radiation effects. A wide variety of prediction, detection, characterization and mitigation techniques against soft-errors are reviewed and discussed. The author shows how to model sophisticated radiation effects in condensed matter in order to quantify and control them, and explains how electronic systems including servers and routers are shut down due to environmental radiation.  Provides an understanding of how electronic systems are shut down due to environmental radiation by constructing physical models and numerical algorithmsCovers both terrestrial and avionic-level conditionsLogically presented with each chapter explaining the background physics to the topic followed by various modelling techniques, and chapter summaryWritten by a widely-recognized authority in soft-errors in electronic devicesCode samples available for download from the Companion Website This book is targeted at researchers and graduate students in nuclear and space radiation, semiconductor physics and electron devices, as well as other areas of applied physics modelling. Researchers and students interested in how a variety of physical phenomena can be modelled and numerically treated will also find this book to present helpful methods.…

N° de réf. du vendeur LU-9781118479292

Titre
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
Auteur
Eishi H. Ibe
Éditeur
John Wiley and Sons Inc, US
Année de publication
2015
État de l'article
New
Reliure
Hardback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1118479297
ISBN à 13 chiffres
9781118479292
Poids de l'article
599 grammes

Rarewaves USA United

HEBRON, KY, Etats-Unis

Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles

Vendeur AbeBooks depuis 20 juin 2025

Frais d'expédition à l'intérieur de ce pays : Etats-Unis

Article30 à 30 jours ouvrés14 à 14 jours ouvrés
Premier articleEUR 44,53EUR 59,67
Les délais de livraison sont fixés par les vendeurs et varient en fonction du transporteur et du lieu. Les commandes transitant par les douanes peuvent être retardées et les acheteurs sont responsables de tous les droits ou frais associés. Les vendeurs peuvent vous contacter au sujet de frais supplémentaires afin de couvrir toute augmentation des coûts d'expédition de vos articles.

Modes de paiement

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Profil professionnel du vendeur

Rarewaves USA

10100 West Sample Road, Ste 101
Coral Springs, FL Etats-Unis 33065