Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3)

Langue : anglais

Edité par Springer, 2012

1461360048 / 9781461360049

Série : Livre 1 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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N° de réf. du vendeur ERICA80014613600486

Titre
Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3)
Auteur
Beenker, F.P.M., Bennetts, R.G., Thijssen, A.P.
Éditeur
Springer
Année de publication
2012
État de l'article
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Type de livre
book
Reliure
Paperback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1461360048
ISBN à 13 chiffres
9781461360049
Série
Livre 1 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Mispah books

Redhill, Surrey, Royaume-Uni

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