Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3)

Livre 1 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Beenker, F.P.M., Bennetts, R.G., Thijssen, A.P.

ISBN 10: 0792396588 ISBN 13: 9780792396581
Edité par Springer, 1995
Langue: anglais
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