Testing of Communicating Systems | 18th IFIP TC 6/WG 6.1 International Conference, TestCom 2006, New York, NY, USA, May 16-18, 2006, Proceedings

M. Ümit Uyar (u. a.)

ISBN 10: 3540341846 ISBN 13: 9783540341840
Edité par Springer, 2006
Langue: anglais
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