Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated

Langue : anglais

Edité par CRC Press, 2017

1138075779 / 9781138075771

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.

N° de réf. du vendeur 595371949

Titre
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated
Éditeur
CRC Press
Année de publication
2017
État de l'article
New
Reliure
Couverture souple
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1138075779
ISBN à 13 chiffres
9781138075771

moluna

Greven, Allemagne

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