Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits

Goel, Sandeep K. (Editor)/ Chakrabarty, Krishnendu (Editor)

ISBN 10: 1138075779 ISBN 13: 9781138075771
Edité par CRC Pr I Llc, 2017
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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