Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models And Test Patterns (frontiers In Electronic Testing)

Livre 38 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Hamdioui, Said

ISBN 10: 1402077521 ISBN 13: 9781402077524
Edité par Springer, 2004
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

Vendu par Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 17 avril 2013

Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles Evaluation 5 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Neuf(s) - Couverture rigide

Etat : Neuf

Prix:
EUR 112,43
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier