Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)

Livre 92 sur 548: Lecture Notes in Electrical Engineering

Liu, Xiao

ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Edité par Springer, 2016
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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