VLSI Test Principles and Architectures
ISBN 10: 9385358421 ISBN 13: 9789385358425
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Titre : VLSI Test Principles and Architectures
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Edité par
Morgan Kaufmann., 2006
ISBN 10 : 0123705975
ISBN 13 : 9780123705976
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Edité par
Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10 : 0123705975
ISBN 13 : 9780123705976
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
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Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10 : 0123705975
ISBN 13 : 9780123705976
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Etat : Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm. N° de réf. du vendeur 34773
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
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Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10 : 0123705975
ISBN 13 : 9780123705976
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VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Edité par
Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10 : 0123705975
ISBN 13 : 9780123705976
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
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VLSI Test Principles and Architectures
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Edité par
Morgan Kaufmann Pub, 2006
ISBN 10 : 0123705975
ISBN 13 : 9780123705976
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Hardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur __0123705975
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
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VLSI Test Principles and Architectures
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