Vlsi Design and Test : 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4?6, 2019, Revised Selected Papers
Sengupta, Anirban (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT); Sharma, Rohit (EDT); Vishvakarma, Santosh Kumar (EDT)
ISBN 10: 9813297662 ISBN 13: 9789813297661
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Synopsis :
This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.
The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
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Détails bibliographiques
Titre : Vlsi Design and Test : 23rd International ...
Éditeur : Springer
Date d'édition : 2019
Reliure : Couverture souple
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VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4¿6, 2019, Revised Selected Papers
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ISBN 10 : 9813297662
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VLSI Design and Test. 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019. Revised Selected Papers.
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VLSI Design and Test
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VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 1066)
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VLSI Design and Test
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