Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongress Fur Rontgenoptik Und Mikroanalyse / Ve Congres Internationa

Gottfried Mollenstedt, K. H. Gaukler

ISBN 10: 3662121107 ISBN 13: 9783662121108
Edité par Springer 2013-11-20, 2013
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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