X-Ray Microscopy II

Langue : anglais

Edité par Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Okt 2013, 2013

3662144905 / 9783662144909

Série : Livre 126 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This volume is based on papers presented at the International Symposium on X-Ray Microscopy held at Brookhaven National Laboratory, Upton NY, August 31-September 4, 1987. Previous recent symposia on the sub ject were held in New York in 1979, Gottingen in 1983 and Taipei in 1986. Developments in x-ray microscopy continue at a rapid pace, with im portant advances in all major areas: x-ray sources, optics and components, and microscopes and imaging systems. Taken as a whole, the work pre sented here emphasizes three major directions: (a) improvements in the capability and image-quality of x-ray microscopy, expressed principally in systems attached to large, high-brightness x-ray sources; (b) greater access to x-ray microscopy, expressed chiefly in systems employing small, often pulsed, x-ray sources; and (c) increased rate of exploration of applications of x-ray microscopy. The number of papers presented at the symposium has roughly dou bled compared with that of its predecessors. While we are delighted at this growth as a manifestation of vitality and rapid growth of the field, we did have to ask the authors to limit the length of their papers and to submit them in camera-ready form. We thank the authors for their con tributions and for their efforts in adhering to the guidelines on manuscript preparation. 472 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9783662144909

Titre
X-Ray Microscopy II
Auteur
David Sayre
Éditeur
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Okt 2013
Année de publication
2013
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3662144905
ISBN à 13 chiffres
9783662144909
Poids de l'article
678 grammes
Dimensions
229x152x26 mm
Série
Livre 126 sur 235: Springer Series in Optical Sciences

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