X-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31 September 4, 1987

Livre 126 sur 235: Springer Series in Optical Sciences

Sayre, David

ISBN 10: 3662144905 ISBN 13: 9783662144909
Edité par Springer 2013-10, 2013
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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