X-Ray Optics and X-Ray Microanalysis

Langue : anglais

Edité par Academic Press, 1963

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Hardcover; Third International Symposium held at Stanford University, Stanf ord, California, in August 1962; surplus library copy with the usual stampi ngs; reference number taped to spine; bar code and tape marks on front cove r; fading and shelf wear to exterior; crease to front endpaper; fade spots to page edges; otherwise in good condition with clean text, firm binding.

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Détails bibliographiques

Titre
X-Ray Optics and X-Ray Microanalysis
Auteur
Pattee, H.H., V.E. Cosslett, And Arne Engstrom, Editors
Éditeur
Academic Press
Année de publication
1963
État de l'article
UsedGood
Reliure
Hardcover
Langue
anglais

BookDepart

Shepherdstown, WV, Etats-Unis

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