X-ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, Ny, August 31-september 4, 1987

Livre 126 sur 235: Springer Series in Optical Sciences

Sayre, David (Editor)/ Howells, Malcolm (Editor)/ Kirz, Janos (Editor)/ Rarback, Harvey (Editor)

ISBN 10: 3662144905 ISBN 13: 9783662144909
Edité par Springer Verlag, 2013
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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