AutoTestCon '82 - IEEE Internationational Automatic Testing Conference, 12-14 October 1982, Dayton, Ohio

IEEE Internationational Automatic Testing Conference; et.al.

Edité par IEEE; The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., New York, NY, U.S.A., 1982
Ancien(s) ou d'occasion Etat : Very Good Couverture rigide

Vendeur SUNSET BOOKS 2, Newark, OH, Etats-Unis

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Vendeur AbeBooks depuis 31 juillet 2009

Afficher tous les articles du vendeur


Ancien(s) ou d'occasion - Couverture rigide

Prix: EUR 21,68 Autre devise
EUR 41,23 expédition depuis Etats-Unis vers France Destinations, frais et délais

Quantité disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier