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Langue : anglais
Edité par Springer Japan, 1998
- Éd. originale
- Livre broché
- Occasion
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- Titre
- High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
- Auteur
- Shindo, Daisuke; Kenji, Hiraga
- Éditeur
- Springer Japan
- Année de publication
- 1998
- État de l'article
- Good
- Reliure
- Couverture souple
- Langue
- anglais
- ISBN à 10 chiffres
- 4431702342
- ISBN à 13 chiffres
- 9784431702344
- Édition
- 1st Edition.
- Poids de l'article
- 1,367 livre
- Dimensions
- N/A
High-resolution electron microscopy (H.R.E.M.) has become a most powerful method for investigating the internal structure of materials on an atomic scale of around 0.1 nm. The authors clearly explain both the theory and practice of H.R.E.M. for materials science.
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High-resolution electron microscopy (H.R.E.M.) has become a most powerful method for investigating the internal structure of materials on an atomic scale of around 0.1 nm. The authors clearly explain both the theory and practice of H.R.E.M. for materials science.
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