Modern Optical Characterization Techniques for Semiconductors and Semiconductor Devices: Volume 794, Proceedings; 26-27 March 1987, Bay Point, Florida, SPIE.

Glembocki, O. J. (Editor); Pollak, Fred H. (Editor); Song J. J. (Editor)

ISBN 10: 089252829X ISBN 13: 9780892528295
Edité par SPIE PRESS-The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, U.S.A., 1987
Langue: anglais
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