Transistor Scaling: Volume 913: Methods, Materials and Modeling (MRS Proceedings)

Edited by Scott Thompson , Faran Nouri , Wen-Chin Lee , Wilman Tsai

ISBN 10: 1558998691 ISBN 13: 9781558998698
Edité par Cambridge University Press, 2006
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

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