Titre: les syst?mes m?catroniques embarqu?s t.1 ; analyse des causes de d?faillances, fiabilit? et contraintes
�diteur: ISTE
Date de parution: 2015
Langue: fran�ais
ISBN � 10 chiffres: 1784050571
ISBN � 13 chiffres: 9781784050573
Reliure: Couverture souple
�tat de l'article: New

A propos de ce titre

Synopsis

La m�catronique associe l'informatique, la m�canique et l'�lectronique. Elle am�liore les performances des syst�mes �lectroniques embarqu�s en r�duisant leurs poids, leurs volumes, leurs consommations d'�nergie et leurs co�ts. Les �quipements m�catroniques doivent fonctionner sans d�faillance pendant des dur�es de service de plus en plus longues. Les conditions d'emploi particuli�rement s�v�res de la m�catronique embarqu�e font appara�tre des m�canismes de d�faillance qui sont sources de pannes. Jusqu'� maintenant ces ph�nom�nes de d�faillance n'ont pas �t� abord�s suffisamment en profondeur pour �tre ma�tris�s. Cet ouvrage pr�sente deux m�thodologies : l'approche statistique d'optimisation de la conception par la fiabilit� et l'approche exp�rimentale pour la caract�risation de l'�volution des syst�mes m�catroniques en mode de fonctionnement. Il analyse �galement les nouveaux outils d'analyse des effets des contraintes d'origine thermique, vibratoire, humide, �lectrique et �lectromagn�tique. **Les coordonnateurs** Professeur � l'INSA-Rouen, Abdelkhalak El Hami est responsable de la chaire de m�canique du CNAM en Normandie et de plusieurs projets p�dagogiques europ�ens. Expert en fiabilit� et en technologie produit-processus � Valeo, Philippe Pougnet est docteur-ing�nieur de l'Universit� Scientifique et M�dicale de Grenoble et ing�nieur INPG. Il est responsable du management de la fiabilit� de syst�mes m�catroniques fabriqu�s en grande s�rie.

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